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38Dl测厚仪可与双晶和单晶探头兼容

发布时间: 2022-09-06  点击次数: 94次
   38Dl测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可很好地适用于几乎所有超声测厚应用,而且与所有双晶和单晶探头*兼容。它可用于各种应用,包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量,以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其的壁厚测量。
  
  主要特性:
  1、可与双晶和单晶探头兼容。
  2、宽泛的厚度范围:0.08毫米~635毫米,根据材料和所选探头而定。
  3、使用双晶探头进行腐蚀测厚。
  4、穿透涂层和回波到回波测量功能,用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
  5、内部氧化层/沉积物软件选项。
  6、对于所有探头,标准分辨率为0.01毫米。
  7、使用频率范围为2.25MHz~30MHz的单晶探头,高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。
  8、多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
  9、高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
  10、厚度、声速和渡越时间测量。
  11、差分模式和缩减率模式。
  12、时基B扫描模式;每次扫查可获得10000个可查读数。
  13、带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
  14、用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
  15、设计符合EN15317标准。
  
  38Dl测厚仪的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能,以及一些专用于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求,可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在*的黑暗中都能具有可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。
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